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【自动化解决方案】芯片越来越复杂,测试设备如何跟上量产需求?联康信息给出自动化答案
【自动化解决方案】芯片越来越复杂,测试设备如何跟上量产需求?联康信息给出自动化答案
2026-09-09
半导体智能分选测试设备专用于IC芯片功能测试(Functional Test)与自动化分选作业,可完美适配IC芯片在常温、高温多温区环境下的并行测试与自动分选流
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【射频测试 | 仪器】LKHJ1202无线综合测试仪为Wi-Fi、蓝牙等无线通信产品提供高效、稳定的测试支持
【射频测试 | 仪器】LKHJ1202无线综合测试仪为Wi-Fi、蓝牙等无线通信产品提供高效、稳定的测试支持
2026-09-09
打开手机、连接无线耳机、使用智能终端……无线连接已成为消费电子产品的基础能力。但一项稳定的无线功能,从研发验证到量产交付,都需要经过信号质量、发射功率、接收性能
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【产品简介】电子测试局部热点温控:无活动部件涡流管定点制冷,支持 7×24 小时高可靠性连续运行
【产品简介】电子测试局部热点温控:无活动部件涡流管定点制冷,支持 7×24 小时高可靠性连续运行
2026-09-04
在电子产品研发与生产测试中,芯片、功率器件及PCB高负载区域持续通电、高负载运行时易形成局部热点。测试治具、屏蔽箱与自动化设备内部空间狭小,热量难以扩散,持续运
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【技术方案】探卡综合测试机:6000TP高密度探针卡多参数自动化测试方案
【技术方案】探卡综合测试机:6000TP高密度探针卡多参数自动化测试方案
2026-09-04
在半导体测试环节中,探针卡承担着被测器件与测试系统之间的电气连接。随着探针数量和测试密度不断提升,高密度探针卡往往包含数千个TP测试点,对测试通道数量、测量精度
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35W‑550W 联康信息电源产品:单路 / 双路 / 可编程电源选型指南
35W‑550W 联康信息电源产品:单路 / 双路 / 可编程电源选型指南
2026-09-04
在电子产品研发、功能测试和设备供电过程中,电源不仅要“供得上”,还要兼顾输出规格、纹波噪声、接口方式、体积以及不同负载下的使用需求。针对不同功率和输出形式,联康
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从连接到测试:射频测试治具到底解决了什么问题?
从连接到测试:射频测试治具到底解决了什么问题?
2026-09-04
在射频测试中,测试仪器往往最容易受到关注。频谱仪、网络分析仪、信号源、综测仪等设备决定了系统能够测什么,然而真正进入研发验证、生产测试和批量测试阶段后,仅有仪器
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从700MHz到50GHz:OTA/RAT无线测试天线的配置与选型
从700MHz到50GHz:OTA/RAT无线测试天线的配置与选型
2026-08-24
在OTA、RAT等无线测试场景中,天线不仅承担信号发射与接收功能,其频率范围、极化方式、增益、驻波比及端口隔离度都会直接影响测试链路的搭建与测试覆盖能力。随着无
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一个接口一个“漏洞”?屏蔽箱上的孔为什么不能随便开
一个接口一个“漏洞”?屏蔽箱上的孔为什么不能随便开
2026-08-14
屏蔽箱要做好屏蔽,最理想的状态似乎是“不开孔”。但在实际测试中,根据被测产品(DUT)的供电、数据通信、网络连接或射频信号传输需求,需要选择 USB、Type-
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